书目详细信息
： 光电测试技术
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 7-111-15348-0:CNY28.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 光电测试技术/.浦昭邦主编/.赵辉副主编 |
| 出版发行项： | 北京:,机械工业出版社:,2005.1 |
| 载体形态项： | 299页:;+图:;+26cm |
| 丛编项： | 普通高等教育测控信息技术规划教材 |
| 相关题名附注： | 英文并列题名取自封面 |
| 提要文摘： | 本书为高等工科院校“测控技术与仪器”、“光电信息工程”等专业的“光电测试技术”课程通用教材。本书首先系统地论述了光度学的基本理论，然后深入地讲述了光电测试技术中的光源、光电变换和光学变换的基本原理和方法，以及常用光电测量系统的原理和设计方法，最后介绍了应用最为广泛的几种现代光电测量系统。 |
| 并列题名： | Photoelectric Measuring and Testing Technique eng |
| 题名主题： | 光电检测 高等学校 教材 |
| 中图分类： | TN206 |
| 个人名称等同： | 浦昭邦 主编 |
| 个人名称次要： | 赵辉 副主编 |
| 记录来源： | CN GGDT 20050902 |