书目详细信息
： 半导体器件典型缺陷分析和图例
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 7-5046-3783-1:CNY80.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 半导体器件典型缺陷分析和图例/.张延伟主编 |
| 出版发行项： | 北京:,中国科学技术出版社:,2004 |
| 载体形态项： | 84页 :彩图(118页):;+20cm |
| 提要文摘： | 本书在详细描述了缺陷的特征的同时，还进一步介绍了缺陷产生的原因和可能产生的危害。通过文字描述和照片相结合的方式给读者一个较为深刻和全面的认识。 |
| 题名主题： | 半导体器件 缺陷 分析 图集 |
| 中图分类： | TN303 |
| 个人名称等同： | 张延伟 主编 |
| 记录来源： | CN RULIN 20051220 |
| 记录来源： | CN GGDT 20060306 |