兰州理工大学图书馆

书目详细信息： SPIE CRITICAL REVIEWS OF TECHNOLOGY SERIES.V.755,I

语种代码：	eng
题名：	SPIE Critical reviews of technology series v.755 Image pattern recognition Algorithm implenentations,techniques,and technology
出版发行项：	Los Angeles SPIE 1987
载体形态：	161P 29CM

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