书目详细信息
： X射线荧光光谱分析
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 7-03-010868-X:CNY29.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | X射线荧光光谱分析/.吉昂...[等]编著 |
| 出版发行项： | 北京:,科学出版社:,2003.3 |
| 载体形态项： | 295页:;+图:;+26cm |
| 丛编项： | 中国科学院研究生教学丛书 |
| 提要文摘： | 本书系统地介绍了X射线荧光光谱分析的理论、测试技术和实际应用，以及近年来的重要进展。书中重点论述了波长色散和能量色散X射线荧光光谱所涉及的基本理论和实验技术、理论强度计算公式、基体校正、样品制备、定量分析和光谱仪结构性能等内容。此外，本书还对近年来提出的半定量分析、薄膜和镀层分析、不确定度评定、化学计量学研究在X射线荧光光谱分析中的应用及普通波长色散X射线荧光光谱仪在化学态分析中的应用等领域作了专门论述。 |
| 题名主题： | X射线荧光光谱法 研究生教育 教材 |
| 中图分类： | O657.34 |
| 个人名称等同： | 吉昂 编著 |
| 个人名称等同： | 陶光仪 编著 |
| 个人名称等同： | 卓尚军 编著 |
| 个人名称等同： | 罗立强 编著 |
| 记录来源： | CN GGDT 20050812 |