ISBN/价格: | 978-7-03-044221-5:CNY32.00 |
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作品语种: | chi |
出版国别: | CN 110000 |
题名责任者项: | 半导体物理与器件实验教程/.刘诺 ... (等) 编著 |
出版发行项: | 北京:,科学出版社:,2015.6 |
载体形态项: | 176页:;+图:;+24cm |
丛编项: | 微电子专业实验教材系列丛书 |
一般附注: | “电子信息材料与器件国家级实验教学示范中心”系列规划教材 |
一般附注: | 教育部“卓越工程师教育培养计划”系列教材 |
提要文摘: | 全书分上下两篇, 上、下两篇既独立成篇又互为联系, 隶属于微电子相关专业的知识体系, 其中每篇又由“基础知识”和“实验”两部分构成。上篇为“半导体物理实验”, 分别为构建晶体结构、仿真与分析晶体电子结构、单波长椭偏法测试分析薄膜的厚度与折射率、四探针测试半导体电阻率、霍耳效应实验、高频光电导法测少子寿命、肖特基二极管的电流-电压测试分析、肖特基二极管的势垒高度和半导体的杂质浓度的测试分析、MIS的高频C-V测试。下篇为“微电子器件实验”, 分别为二极管直流参数测试、双极型晶体管直流参数测试、MOS场效应晶体管直流参数测试、双极型晶体管开关参数测试、双极型晶体管频率特性测试。每个实验均包括学习目标、建议学时、原理、实验仪器、实验内容、实验步骤、复习题, 旨在培养学生的实验操作技能和实验思考技能。 |
题名主题: | 半导体物理 实验 教材 |
题名主题: | 半导体器件 实验 教材 |
中图分类: | TN303-33 |
个人名称等同: | 刘诺 编著 |
记录来源: | CN 兰州理工书店 20150525 |