书目详细信息
： 半导体物理与器件实验教程
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-5607-6952-3:CNY26.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 370000 |
| 题名责任者项： | 半导体物理与器件实验教程/.计峰主编 |
| 出版发行项： | 济南:,山东大学出版社:,2023 |
| 载体形态项： | 129页:;+图:;+26cm |
| 一般附注： | 集成电路科学与工程类新工科系列教材 |
| 提要文摘： | 本书主要分为半导体物理实验及半导体器件实验两篇。半导体物理实验包括单晶硅的激光定向、单晶硅中晶体缺陷的腐蚀显示、半导体材料导电类型的测定、四探针法测量半导体电阻率、霍尔效应实验、高频光电导衰减法测少子寿命、半导体材料光学特性的测量、MOS管的C-V特性测量、PN结势垒特性及杂质的测试分析、PN结正向特性的研究和应用等十个实验。半导体器件实验包括发光二极管特性参数测量、稳压二极管特性参数测量、双极型晶体管直流参数测量、场效应管直流参数测量、晶体管基极电阻的测量等十个实验。 |
| 并列题名： | Experimental course of semiconductor physics and devices eng |
| 题名主题： | 半导体物理 实验 |
| 题名主题： | 半导体器件 实验 |
| 中图分类： | O47 |
| 个人名称等同： | 计峰 主编 |