| ISBN/价格: | 978-7-03-029105-9:CNY50.00 |
|---|---|
| 作品语种: | chi eng |
| 出版国别: | CN 110000 |
| 题名责任者项: | 材料分析技术/.(新)Sam Zhang, Lin Li, Ashok Kumar著/.刘东平 ... [等] 译 |
| 出版发行项: | 北京:,科学出版社:,2010.10 |
| 载体形态项: | 265页:;+图:;+24cm |
| 提要文摘: | 本书共十一章,分布式接触角在表面分析中的应用、X射线光电子能谱和俄歇电子能谱、扫描隧道显微镜和原子力显微镜、X射线衍射、透射电子显微镜、扫描电子显微镜、宏观和微观热分析以及激光共焦荧光显微镜等。 |
| 并列题名: | Materials Characterization Techniques eng |
| 题名主题: | 材料 分析方法 研究 |
| 中图分类: | TB3 |
| 个人名称等同: | 张善勇 著 |
| 个人名称等同: | 李林 著 |
| 个人名称等同: | 克迈尔 著 |
| 个人名称次要: | 刘东平 译 |