书目详细信息
： 模拟/混合信号集成电路抗辐照技术与实践
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-5767-0545-4:CNY108.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi |
| 出版国别： | CN 230000 |
| 题名责任者项： | 模拟/混合信号集成电路抗辐照技术与实践/.黄晓宗等编著 |
| 出版发行项： | 哈尔滨:,哈尔滨工业大学出版社:,2023 |
| 载体形态项： | 289页:;+图:;+24cm |
| 一般附注： | 国家出版基金资助项目 材料与器件辐射效应及加固技术研究著作 |
| 提要文摘： | 本书介绍了辐射对电子系统的损伤机理、加固技术和实践、辐射测试技术等研究内容，并阐述了抗辐射加固技术的发展趋势。第1章和第2章介绍了辐射环境与基本辐射效应、半导体器件的辐射效应损伤机理，并介绍了SiGe HBT BiCMOS工艺的辐射特性；第3~5章介绍了从工艺、版图和电路等方面进行抗辐射加固的技术；第6章针对模拟/混合信号集成电路加固技术的案例进行了研究；第7章和第8章介绍了模拟/混合信号集成电路辐射测试技术和抗辐射加固发展趋势。 |
| 并列题名： | Radiation-hardening techniques and practices for analog/mixed-signal integrated circuits eng |
| 题名主题： | 模拟集成电路 抗辐射性 研究 |
| 题名主题： | 混合集成电路 抗辐射性 研究 |
| 中图分类： | TN431.1 |
| 个人名称等同： | 黄晓宗 编著 |