书目详细信息
： 产品设计的电磁兼容故障排除技术
书目信息 机读格式(MARC)
| ISBN/价格： | 978-7-111-62047-1:CNY49.00 |
|---|---|
| 作品语种： | chi eng |
| 出版国别： | CN 110000 |
| 题名责任者项： | 产品设计的电磁兼容故障排除技术/.(美) 帕特里克·G. 安德烈, (美) 肯尼思·D. 怀亚特著/.崔强译 |
| 出版发行项： | 北京:,机械工业出版社:,2019.4 |
| 载体形态项： | XV, 254页:;+图:;+21cm |
| 丛编项： | 国际电气工程先进技术译丛 |
| 相关题名附注： | 英文并列题名取自封面 |
| 提要文摘： | 本书详细讲述了产品的电磁干扰（EMI）故障排除技术。其目的是为工程师和技术人员提供EMI故障排除思路、故障排除方法或诊断工具。全书共11章，内容包括电磁基础、电磁干扰和电磁兼容、测量仪器、辐射发射、传导发射、辐射敏感度、传导敏感度、电快速瞬变脉冲群(EFT)、静电放电(ESD)、浪涌和雷电脉冲的瞬态抑制，以及其他特定的EMI问题。此外，本书还给出了8个附录，为读者提供了非常有价值的辅助信息、技术和工具。 |
| 题名主题： | 电子产品 产品设计 电磁兼容性 故障修复 |
| 中图分类： | TN03 |
| 个人名称等同： | 安德烈 著 |
| 个人名称等同： | 怀亚特 著 |
| 个人名称次要： | 崔强 译 |